3938型掃描電遷移率粒徑譜儀

更新時間：2024-03-17

簡要描述：

產(chǎn)品詳情

TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應(yīng)用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對液體懸浮顆粒進(jìn)行精確的納米顆粒粒徑測量。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)參考粒徑進(jìn)行測量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測量是審慎的技術(shù)，在該技術(shù)方法中計(jì)數(shù)濃度會被直接測量而無需假設(shè)粒徑

在線咨詢點(diǎn)擊收藏

詳細(xì)介紹

特性和優(yōu)點(diǎn)

高分辨率數(shù)據(jù)：高達(dá)167通道

1nm到1,000nm的極寬粒徑范圍

符合ISO 15900:2009標(biāo)準(zhǔn)

快速測量：<10s掃描

寬濃度范圍，高達(dá) 10 7 顆粒/cm 3

給您zui大靈活度的組件設(shè)計(jì)

觸摸屏控制無需電腦操作

免工具安裝易于設(shè)置，自動發(fā)現(xiàn)組件

審慎的顆粒測量：適合多模樣品

不依賴于粒子和流體的光學(xué)性質(zhì)

寬系統(tǒng)配置選項(xiàng)：可選水介質(zhì)或丁醇介質(zhì)凝聚粒子計(jì)數(shù)器；可選傳統(tǒng)的或無輻射中和器

應(yīng)用

納米技術(shù)研究和材料合成

大氣研究和環(huán)境檢測

燃燒和發(fā)動機(jī)排放研究

室內(nèi)空氣質(zhì)量測量

成核/凝結(jié)研究

吸入毒理學(xué)研究

包含組件

與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器

七款凝聚粒子計(jì)數(shù)器之一

Aerosol Instrument Manager?氣溶膠儀器管理軟件

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗(yàn)證碼：

請輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：1NM 3938E771NM 3938E77型掃描電遷移粒徑譜儀
下一篇：3081差分電遷移率分析儀 3081

3938型掃描電遷移率粒徑譜儀

簡要描述：

特性和優(yōu)點(diǎn)

應(yīng)用

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗(yàn)證碼：

聯(lián)系電話